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美国GE贝克休斯B4S超声波探头
详细信息| 询价留言品牌：美国GE贝克休斯 型号：B4S 加工定制：否 用途：超声波探伤仪探头 是否进口：是 加工定制：否
美国GE德国KK贝克休斯Waygate B4S-EN超声波探头纵波单晶探头
适合DGS缺陷评判
性能参数误差小，适合高精度检测
可更换保护膜，保护探头不被磨损
柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合
合金压铸壳体，坚固耐用
用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）
应用用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体
B..S系列A=30mm
B=59mm
C=45mm
D=29mm
系列
型号
频率
(MHZ)
接口方向
带宽
晶片直径
接口类型
保护膜
BS
B1S-EN
1
侧装
25
24mm
Lemo 01
ES45
B1S
1
B2S
2
B2.25SE
2.25
B4S
4
B5S
5
B1S-O
1
顶装
B2S-O
2
B4S-O
4
B5S-O
5
MB..S系列
A=20mm
B=43mm
C=25mm
D=15mm
系列
型号
频率(MHZ)
接口方向
带宽
晶片直径
接口类型
保护膜
MBS
MB1S
1
侧装
25
10mm
Lemo 00
ES24
MB2S
2
MB2S-EN
2
MB4S
4
MB4S-EN
4
MB5S
5
MB6S
6
MB2S-O
2
顶装
MB4S-O
4
MB5S-O
5
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